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硅片表面线痕深度测试仪(HS-SRT-301)

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硅片表面线痕深度测试仪(HS-SRT-301)

  • 单价:
    ¥1
  • 可售数量:
    1
  • 品牌名称:
  • 所在地:
    北京北京
  • 产品规格:
    HS-SRT-301
  • 包装说明:
    标准包装
  • 商品名称:硅片表面线痕深度测试仪(HS-SRT-301)
  • 自定义分类:电工仪器
  • 上架时间:2020/9/15 11:03
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产品关键词: 硅片表面线痕深度测试,测试硅片的表面线痕深,触摸屏便捷操作,

HS-SRT-301型硅片线痕深度测试仪可用于测试硅片的表面线痕深度,具有便于携带、触摸屏便捷操作、液晶显示、节能等优点,同时内置打印机和充电电池,所有设计均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等标准。

硅片表面线痕深度测试仪-产品特点

便于操作的触摸屏

内置打印机和充电电池

JIS/DIN/ISO/ANSI兼容36个评价参数和3个分析图表

探针行程达350mm

具有统计处理功能

带有SURFPAK-SJ软件的PC连接端口

自动休眠功能可有效节约能源。

高分辨率液晶屏显示粗糙度值
性价比高
菜单式快速方便设置
高分辨率液晶LCD显示

硅片表面线痕深度测试仪-技术指标

检测器测试范围:350μm (-200μm to +150μm)

检测器检测方式:微分感应

检测器测力:4mN 0.75mN(低测力方式)

显示: 液晶显示

数据输出: 通过RS-232C端口/SPC数据输出

电源: 通过AC适配器/电池(可更换)

充电时间:15小时

电池使用时间:最多可测600

检测器尺寸(WxDxh):307×165×94mm

检测器重量:1.2kg

驱动部尺寸(WxDxh):115 x 23 x 26mm

驱动部重量:0.2kg


典型客户
美国,欧洲,亚洲及国内太阳能及半导体客户。


产品关键词: 硅片表面线痕深度测试,测试硅片的表面线痕深,触摸屏便捷操作,
硅片表面线痕深度测试仪(HS-SRT-301)
温馨提示: 以上是关于“硅片表面线痕深度测试仪(HS-SRT-301)”的详细介绍,产品由“北京合能阳光新能源技术有限公司”为您提供,如果您感兴趣可以联系供应商或者让供应商主动联系您,您也可以查看更多与“其他仪器仪表”相关的产品!
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